Metallographie

  • Rasterelektronenmikroskopie

    ZEISS Evo 15 mit VP, SE, BSE, EDX und EBSD

    Wenn die Lichtmikroskopie bei etwa 1000-facher Vergrößerung an ihre Grenzen stößt, können wir mit unserem Elektronenmikroskop ZEISS Evo 15 noch tiefer ins Material schauen. Im VP-Modus sind dabei auch schlecht leitende Proben wie Keramiken oder unbeschichtete Kunststoffe untersuchbar.
    Wir verfügen neben dem SE-Detektor, der die Topographie einer Probe anzeigt, über einen BSE-Detektor, der den Materialkontrast erfasst. Weiterhin ist Ultim Max 40 EDX-Detektor von Oxford Instruments verbaut, um die punktuelle Zusammensetzung quantitativ beurteilen zu können. Durch einen C-Nano+ EBSD-Detektor von Oxford Instruments können wir die Kristallstruktur und -orientierung von Atomen an der Probenoberfläche erfassen. Dabei wird durch eine nur nanometergroße Eindringtiefe eine hervorragende Auflösung erreicht. Mit korrelativer Mikroskopie (CLEM) können wir die Vorteile von Licht- und Elektronenmikroskopie vereinen. Unser Lichtmikroskop und das REM sind so miteinander verknüpft, dass im LM markierte Positionen im REM bzw. im REM markierte Positionen im LM wieder angefahren werden können.
    Durch die diversen Detektoren führen wir mit unserem REM von Bruchflächenanalyse über Seigerungsprofile bis hin zur Betrachtung der Morphologie und des Wachstums dünnster Schichten verschiedenste Untersuchungen an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen durch.
    Beispielhafte REM-Aufnahmen


    Spezifikationen:
    Bildgröße bis 32000 x 24000 Pixel (768 MPx)
    Auflösung bis 5 nm großer Strukturen
    Vergrößerung bis 400000x
    Sondenstrom bis 5 µA
    Beschleunigungsspannung bis 30 kV
    VP-Modus mit bis zu 400 Pa Kammerdruck
    Korrelative Licht- und Elektronenmikroskopie (CLEM)
     
    Material- & Topographieabbildung mit SE- und BSE-Detektor
    Bestimmung der Zusammensetzung ab ~0,5 % mit Ultim Max 40 EDX-Detektor mit bis 400000 cps
    Punkt-, Linien- und Flächenanalyse, automatische Partikelerkennung
    Mapping auch in zusammengesetzten Aufnahmen mit mehreren mm² Gesamtfläche
     
    Kristallanalyse bis zu 600 pps mit Oxford Instruments Nano-C+ EBSD-Detektor
    Strukturauswertung mit Oxford Instruments AZtecCrystal

  • Stereo- und Auflichtmikroskopie mit digitaler Bildauswertung

    Zeiss Axio Imager.M2m

    Zweck: Optische Analyse, Bildaufnahmen, Phasenanalyse, Partikeldetektion

    Funktionsweise:

    Ein Stereomikroskop ist ein spezielles Lichtmikroskop, bei dem für beide Augen ein getrennter Strahlengang bereitgestellt wird. Beide Augen sehen das Präparat daher aus einem etwas unterschiedlichen Winkel, so dass ein „Stereo-Effekt“, also ein räumlicher Bildeindruck, eintritt.
    Stereomikroskope arbeiten üblicherweise mit Vergrößerungen unterhalb 100:1, weil aufgrund der bei hohen Vergrößerungen rasch abnehmenden Schärfentiefe nur bei diesen vergleichsweise geringen Vergrößerungen ein räumliches Bild sinnvoll ist. (Quelle)

    Lichtmikroskope [...] sind Mikroskope, die stark vergrößerte Bilder von kleinen Strukturen oder Objekten mit Hilfe von Licht erzeugen. Die Vergrößerung erfolgt gemäß den Gesetzen der Optik unter Ausnutzung von Lichtbrechung an Glaslinsen.
    Um im erzeugten Bild Strukturen erkennen zu können, muss das Bild ausreichend Kontrast enthalten, der in vielen biologischen Objekten wie z. B. Gewebeschnitten oder kleinen Wasserlebewesen kaum vorhanden ist. Das ‚typische‘ mikroskopische Verfahren für solche Objekte ist die Hellfeldmikroskopie, bei der Kontrast durch farbige oder dunkle Strukturen im durchleuchteten Präparat hervorgerufen wird, bei Bedarf verstärkt durch zusätzliche künstliche Färbung des Objektes. Bei farblosen Präparaten kann Kontrast auch mit speziellen Beleuchtungsverfahren hervorgerufen werden, indem Unterschiede in der optischen Dichte (Brechungsindex) in Helligkeitsunterschiede umgewandelt werden. Dies geschieht bei Dunkelfeldmikroskopie, Phasenkontrastmikroskopie und bei Differentialinterferenzkontrast (DIC) oder bei dem bereits in den Anfängen der Mikroskopie verwendeten Verfahren mit schiefer Beleuchtung. Unterschiede im Polarisationsverhalten des Präparats werden bei der Polarisationsmikroskopie genutzt. (Quelle)

  • Halbautomatische Schleif- und Poliergeräte

  • Kleinlasthärteprüfer

    Bühler Micromet 5103

    Die Mikrohärte ist ein Werkstoffkennwert für verschiedene Materialien. Bei Metallen werden mit dem System der Mikrohärte Härtewerte für einzelne Gefügebestandteile untersucht, dies im Gegensatz zur Makrohärte, mit der ein Härtewert über die gesamte metallische Matrix eines Werkstoffes ermittelt wird. Dazu wird meist das Härteprüfverfahren nach Vickers eingesetzt. (Quelle)

    Prüfverfahren: Vickers

    Lastbereich: 0,01-1 kg (10 gf, 25 gf, 50 gf, 100 gf, 200 gf, 300 gf, 500 gf, 1000 gf)