Zum Hauptinhalt springen

Induktiv-gekoppletes Plasma-Emissionsspektrometer (ICP-OES)

GerätebezeichnungKurzformZweckGebäudenr.VerantwortlichTel,Email
Induktiv-gekoppletes Plasma-EmissionsspektrometerICP-OESMultielementanalytik in Lösungen0510G. Zander2646
gerrit.zander @tu-clausthal.de

Preis: ca. 100.000,- €

Baujahr: 2003

Physikalisches Prinzip: Nach Aufschluss der Probensubstanz wird die entstandene Lösung in ein induktiv gekoppeltes Argonplasma zerstäubt und dort atomisiert und ionisiert. Die freigewordenen Atome und Ionen werden durch die hohe Energie des Ar-Plasmas angeregt. Die nach der Anregung entstehende Strahlung wird in einem Spektrometer zerlegt und dessen Intensität gemessen. Daraus lässt sich nach vorhergehender Kalibrierung die Elementkonzentration ermitteln. Hierbei geschieht die Signalerfassung simultan für alle Elemente (Linien).

 

Anwendung: Bestimmung von Metallen in Lösungen und Feststoffen nach Aufschluss. Es können alle Metalle und Übergangsmetalle (inkl. B), sowie P, S und I gemessen werden. Die Technik ist ausgereift, schnell und sehr empfindlich, aber in der Regel nicht so kostengünstig wie die AAS.