Seit Anfang April 2021 verfügt das IMET mit einem ZEISS EVO 15 über ein neues Rasterelektronenmikroskop (REM), dass das vorhandene Cambridge Camscan 44 ablöst. Die umfassend modernere Ausstattung stellt einen großen Sprung in Analysefähigkeiten und -qualität dar. REM-typisch sind durch Sekundär- (SE) und Rückstreuelektronendetektion (BSE) Topographie- und Materialkontrasterfassung möglich. Spannungsabhängig ist einerseits die Detailbetrachtung mit einer Bildauflösung im Nanometerbereich möglich, andererseits können durch die Fähigkeit, automatisch extrem große Bilder mit hunderten Megapixeln aus Einzelaufnahmen zu erstellen, weite Probenbereiche untersucht werden. Als Zusatzausstattung verfügt das beschaffte EVO 15 über variable pressure, EDX, und automatisierte Partikelanalyse. Der EDX-Detektor Ultim Max 40 von Oxford Instruments erlaubt in Zusammenarbeit mit den Softwarepaketen AZtecLive Advanced und AZtec LAM (Large Area Mapping) die detaillierte Erfassung und Darstellung der Probenzusammensetzung.
Die softwareseitigen Neuerungen erlauben insbesondere auch eine weitgehende Automatisierung langwieriger und ausgedehnter Analysevorgänge. Ein herausragendes Feature ist die in Kombination mit einem ebenfalls neu beschafften, vollmotorisierten ZEISS Axio Imager.Z2m-Lichtmikroskop mögliche, korrelative Mikroskopie. Dadurch wird die Untersuchung desselben Probenbereichs und Verknüpfung der Ergebnisse durch Licht- und Elektronenmikroskopie ermöglicht und vereint so die Stärken der beiden Untersuchungsmethoden.
Die Finanzierung der Mikroskope erfolgte dankenswerterweise zu gleichen Teilen durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft und das Niedersächsische Ministerium für Wissenschaft und Kultur.
